半导体动态参数测试系统采用全球最先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的 细节，并准确计算出参数

HET-2000D是力钛科公司结合STI和Lecroy的产品特点和优势，共同开发的满足IEC60747-8 9、JESD24标准的半导体动态参数分析系统。

半导体器件高温反偏试验系统，器件的封装类型：轴向 径向二极管、TO-247-3 4、TO-3P、TO-220 等，可以根据需要选择

LET-5000半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。

LET-T216应用于原材料、元器件，电路板 模块，整机电子、电器、电力等产品进行恒定温度，恒定湿度，变化温度，变化温湿度等模拟高温、恶劣环境的可靠性测试